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第66章 教会了徒弟饿死了师傅（第2页）

博士生工作间。

张明浩坐在电脑前，打开了所做的数据分析的文件。

陈帅和陈兰君一左一右把他夹在中间。

“这是你做的？看起来有模有样的。”

陈帅笑着点评了句。

陈兰君翘起了嘴角，邀功式的说道，“我教了他好几个方法。”

“对、对，你行，你厉害！”

陈帅哄孩子似的夸了一句，明显都没走心，他的表情神态让陈兰君颇受打击。

张明浩好笑的摇了摇头，就认真讲了起来，“看这一组，温度。”

“我是采用基础分析策略，先找出数据组中和温度相关的……”

“下一步是排除干扰因素，把温度相关数据提出，并大范围的做计算。”

“使用统计学上的……”

他详细讲了起来。

陈帅和陈兰军都认真听着。

张明浩的分析用的是基础方法，统计计算的方式很新颖，但也没有超出常规之外。

他们简单一听就知道没有问题。

等一系列的方法讲完了以后，电脑上已经列出了对比数据。

陈帅仔细看了看，发现也确实没什么问题，从最终得出的偏差组来看，已经达到了‘弱关联’的程度。

他拧着眉头想了想，“好像是没什么问题。”

再仔细琢磨一下，干脆道，“这个先留着，讲下一个吧。”

下一个影响因素是表层单晶通路的宽度。

碲化铋所制造的衬底，和半导体衬底很相似，是一个表面上看起来平整的片状结构。

但圆盘上设计了一个个‘通路’的。

在通路上就会进行各种半导体器件和电路的制造，因为半导体是非常精密的，一个个通路小到肉眼都分辨不出来。

如果放大了来看，半导体的衬底可以简单理解为一个模具，把融化后材料倒在模具上，凝固后就可以得到想要的形状。

当然，半导体衬底工艺上要复杂太多了。

张明浩找到的第二个影响因素就是碲化铋衬底表层单晶通路的宽度。

“单晶通路的宽度同样有影响。”

“不同的宽度，最终制造的实验产物特性是不同的，我发现我们的实验使用过三种不同通路宽度的衬底，把其实验产物特定做对比，实际上也存在不同……”

“陈老师，你看这几组数据，采用平均化对比方法，会存在的偏差……”

“看起来似乎一样，实际上，如果再进行……”

“因为是统计上的数据……”

张明浩继续说了起来。

陈帅听的很认真，他还不断理解着点头。

但一直等到最后，他也没发现张明浩的统计计算方法有什么问题，但最终的偏差组依旧显出了数据上‘弱关联’。

弱关联，也就是说，关联可能存在也可能不存在。

他所找到的‘磁性关联’也同样是弱关联，所以不能从关联强度上否定张明浩的发现。

那怎么否定？

陈帅只能喃喃道，“你讲下一（本章未完，请翻页）

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